9 月 9—11 日，第二十七届中国国际光电博览会（CIOE 中国光博会）在深圳国际会展中心（宝安）举办。本届 CIOE 单展面积 26 万平方米，汇聚 30 多个国家和地区、4000 余家光电企业，同期与 IICIE、elexcon 三展联动总规模约 32 万㎡；八大主题展覆盖信息通信、精密光学与摄像头技术、机器视觉、激光智造、AR/VR、智能传感等板块，把“光学零件—镜头模组—传感系统—智能终端”的全链条摊在观众面前。
此次展会，V-Tech 台超集团携三款直面光电精密测量场景的机型与产品亮相
Micro-Vu Excel 512——中大型零件高精度复合影像测量仪
拥有 420×520×250 mm 的测量行程，轴向精度达 2.8+L/200 μm，线性分辨率高达 0.05 μm，承载能力达 100 kg，凭借其大行程、高精度和强大的承载能力，是应对精密加工、电子元器件、模具制造等中大型零件尺寸检测与质量控制的理想选择。
Micro-Vu Vertex 341——小尺寸光学件快速精密测量仪
行程为 315×315×160 mm，轴向精度达 2.0+L/180 μm，线性分辨率 0.1 μm，搭载 Micro-Vu 自主研发的 InSpec 测量软件，配合全自动光学变焦系统与高级 LED 照明系统，可快速完成高精度测量，广泛应用于光学电子元器件、AR/VR/AI 眼镜零部件、塑胶产品等小尺寸零件行业，并可配备激光传感器、触发式探针或旋转夹具，满足复杂、特殊尺寸的测量需求。
Insight AI——智能量测辅助判定系统
专为工业精密测量场景打造，无缝协同 Micro-Vu 高精度光学测量仪及 InSpec 软件，具备自适应学习复杂结构、替代人工判断精准建立局部坐标系、减少手动操作、强抗干扰识别以降低漏检误检概率等能力。展会期间，台超展位人气持续高涨，专业观众络绎不绝。不少客户驻足台超展位，围绕自身产品的量测痛点与现场团队深入交流。通过动态演示与深度技术交流，现场技术团队向客户充分展示了台超在光电精密测量领域的创新实力与行业前瞻性。面对面的互动不仅让客户深入了解了产品的技术特点与应用价值，更收集到了许多宝贵的市场反馈与合作意向。
此次 CIOE 2026，不仅展示了台超集团在精密测量领域的技术积淀，更深化了与行业上下游企业的合作纽带。未来，台超集团将继续聚焦精密化、智能化解决方案的创新，为各位新老客户提供更领先、更全面的精密测量解决方案。
